5,2.图根控制测量5，2 1,图根平面控制和高程控制测量可同时进行。也可分别施测。图根点相对于邻近等级控制点的点位中误差不应大于图上0、1mm.高程中误差不应大于基本等高距的1,10，5、2 2 对于小测区，图根控制可作为首级控制,5.2.3 图根点点位标志宜采用木 铁.桩。当图根点作为首级控制或等级点不足时、每幅图应埋设一个标石。5.2，4.般地区图根点的数量不宜少于表5。2,4的规定。5、2。5,图根平面控制测量可采用RTK图根测量、图根导线、极坐标法和边角交会法等 5.2，6 RTK图根控制测量的主要技术要求应符合下列规定，1，RTK图根控制测量可采用单基站RTK测量模式。也可采用网络RTK测量模式，作业时 有效卫星数不宜少于6个，多星座系统有效卫星数不宜少于7个,PDOP值应小于6.并应采用固定解成果 2、RTK图根控制点应进行两次独立测量。坐标较差不应大于图上0.1mm 符合要求后应取两次独立测量的平均值作为最终成果.3,RTK图根控制测量的主要技术要求应符合表5。2、6的规定、4,RTK图根控制测量的其他技术要求应符合本标准第3。2、23条.第3 2.30条的规定，5，2,7.图根导线测量应符合下列规定,1。图根导线测量宜采用6，级仪器一测凹测定水平角.主要技术要求不应超过表5。2、7的限差规定，2，在等级点下加密图根控制。不宜超过2次附合 3、图根导线的边长可采用全站仪单向施测 5，2、8.对于难以布设附合导线的困难地区，可布设成支导线 支导线的水平角可用6、级仪器观测左、右角各一测回、圆周角闭合差不应超过40,边长应往返测定.边长往返较差的相对误差不应大于1 3000。图根支导线平均边长及边数不应超过表5，2,8的规定。5、2，9、极坐标法图根点测量应符合下列规定,1.宜采用6，级仪器.应一测回测定角度.距离、2。极坐标法图根点测量限差、不应超过表5。2。9,1的规定.3 测量时 可与图根导线或二级导线一并测量 也可在等级控制点上独立测量。独立测量的后视点、应为等级控制点 4,在等级控制点上独立测量时.可直接测定图根点的坐标和高程、并应将上.下两半测回的观测值取平均值作为最终观测成果.点位误差应符合本标准第5。2.1条的规定，5，极坐标法图根点测量的最大边长。应符合表5,2。9.2的规定.6,使用前.应对观测成果进行校核、5。2.10 图根补点可采用RTK图根测量。也可采用有校核条件的测边交会、测角交会,边角交会或内外分点法。当采用测边交会和测角交会时，交会角应在30.150、之间，观测限差应符合本标准表5.2 9。1的规定。分组计算所得的坐标较差不应大于图上0，2mm。5、2 11 图根高程控制可采用图根水准，电磁波测距三角高程和RTK图根高程测量方法,起算点的精度不应低于四等水准高程点,5 2,12，图根水准测量的主要技术要求应符合表5,2.12的规定,5、2，13.图根电磁波测距三角高程测量的主要技术要求应符合表5，2。13的规定、仪器高和觇标高应精确量至1mm、5、2.14。RTK图根高程控制测量作业方法，应独立进行2次高程测量.2次独立测量的较差不应大于基本等高距的1,10,符合要求后应取2次独立测量的平均值作为最终成果.其他技术要求应符合本标准第5。2 6条的规定.5,2 15、图根控制测量内业计算和成果的取位要求应符合表5。2 15的有关规定,5.2，16。RTK图根控制测量成果的检查应符合下列规定，1 检核点应均匀分布于测区的中部及周边。2，检核方法可采用边长检核,角度检核或导线联测检核等.RTK图根控制点检核限差应符合表5，2、16的规定，3、外业检核也可采用已知点比较法,复测比较法等、并应按本标准公式.3，2.31、统计检核点的精度.检核点的点位中误差M.不应大于图上0，1mm。高程中误差不应大于基本等高距的1,10.