5,2，图根控制测量5，2.1,图根平面控制和高程控制测量可同时进行。也可分别施测、图根点相对于邻近等级控制点的点位中误差不应大于图上0，1mm、高程中误差不应大于基本等高距的1。10。5。2。2 对于小测区。图根控制可作为首级控制,5.2、3.图根点点位标志宜采用木。铁。桩，当图根点作为首级控制或等级点不足时,每幅图应埋设一个标石，5，2,4，般地区图根点的数量不宜少于表5、2。4的规定。5 2。5 图根平面控制测量可采用RTK图根测量，图根导线 极坐标法和边角交会法等 5，2 6 RTK图根控制测量的主要技术要求应符合下列规定。1，RTK图根控制测量可采用单基站RTK测量模式，也可采用网络RTK测量模式,作业时，有效卫星数不宜少于6个.多星座系统有效卫星数不宜少于7个、PDOP值应小于6.并应采用固定解成果 2,RTK图根控制点应进行两次独立测量.坐标较差不应大于图上0 1mm、符合要求后应取两次独立测量的平均值作为最终成果.3。RTK图根控制测量的主要技术要求应符合表5。2、6的规定。4 RTK图根控制测量的其他技术要求应符合本标准第3,2 23条、第3 2。30条的规定，5，2,7。图根导线测量应符合下列规定、1 图根导线测量宜采用6。级仪器一测凹测定水平角.主要技术要求不应超过表5、2、7的限差规定，2、在等级点下加密图根控制 不宜超过2次附合。3、图根导线的边长可采用全站仪单向施测 5、2.8，对于难以布设附合导线的困难地区、可布设成支导线.支导线的水平角可用6，级仪器观测左,右角各一测回.圆周角闭合差不应超过40、边长应往返测定。边长往返较差的相对误差不应大于1。3000.图根支导线平均边长及边数不应超过表5.2、8的规定,5，2.9,极坐标法图根点测量应符合下列规定、1,宜采用6，级仪器，应一测回测定角度、距离,2、极坐标法图根点测量限差,不应超过表5,2 9。1的规定，3，测量时，可与图根导线或二级导线一并测量.也可在等级控制点上独立测量,独立测量的后视点，应为等级控制点，4。在等级控制点上独立测量时。可直接测定图根点的坐标和高程.并应将上 下两半测回的观测值取平均值作为最终观测成果。点位误差应符合本标准第5，2.1条的规定.5.极坐标法图根点测量的最大边长、应符合表5,2 9、2的规定 6。使用前、应对观测成果进行校核，5.2，10。图根补点可采用RTK图根测量、也可采用有校核条件的测边交会，测角交会 边角交会或内外分点法.当采用测边交会和测角交会时，交会角应在30。150，之间。观测限差应符合本标准表5 2、9 1的规定.分组计算所得的坐标较差不应大于图上0，2mm.5。2。11.图根高程控制可采用图根水准、电磁波测距三角高程和RTK图根高程测量方法 起算点的精度不应低于四等水准高程点 5 2。12，图根水准测量的主要技术要求应符合表5,2,12的规定,5。2，13。图根电磁波测距三角高程测量的主要技术要求应符合表5.2,13的规定,仪器高和觇标高应精确量至1mm.5,2、14、RTK图根高程控制测量作业方法。应独立进行2次高程测量,2次独立测量的较差不应大于基本等高距的1.10 符合要求后应取2次独立测量的平均值作为最终成果,其他技术要求应符合本标准第5。2、6条的规定 5、2，15.图根控制测量内业计算和成果的取位要求应符合表5,2.15的有关规定 5。2.16、RTK图根控制测量成果的检查应符合下列规定，1。检核点应均匀分布于测区的中部及周边.2,检核方法可采用边长检核 角度检核或导线联测检核等.RTK图根控制点检核限差应符合表5。2 16的规定 3,外业检核也可采用已知点比较法。复测比较法等、并应按本标准公式 3 2。31 统计检核点的精度，检核点的点位中误差M 不应大于图上0.1mm。高程中误差不应大于基本等高距的1 10