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射频连接器 第201部分:电气试验方法 反射系数和电压驻波比 GB/T 11313.201-2018 2019-12-20 1.69M
电热装置基本技术条件 第1部分:通用部分 GB/T 10067.1-2005 2019-12-20 3.49M
环境试验 第2部分:试验和导则 气候(温度、湿度)和动力学(振动、冲击)综合试验 GB/T 2423.35-2019 2019-12-20 2.69M
环境试验 第2部分:试验方法 试验Ea和导则:冲击 GB/T 2423.5-2019 2019-12-20 5.68M
电气绝缘用漆 第6部分:环保型水性浸渍漆 GB/T 1981.6-2014 2019-12-20 1.69M
半导体器件 机械和气候试验方法 第20-1部分:对潮湿和焊接热综合影响敏感的表面安装器件的操作、包装、标志 GB/T 4937.201-2018 2019-12-13 5.46M
半导体器件 机械和气候试验方法 第30部分:非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理 GB/T 4937.30-2018 2019-12-13 1.8M
半导体器件 机械和气候试验方法 第19部分:芯片剪切强度 GB/T 4937.19-2018 2019-12-13 1.17M
半导体器件 机械和气候试验方法 第18部分:电离辐射(总剂量) GB/T 4937.18-2018 2019-12-13 2.69M
半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分:中子辐照 GB/T 4937.17-2018 2019-12-13 1.07M
半导体器件 机械和气候试验方法 第15部分:通孔安装器件的耐焊接热 GB/T 4937.15-2018 2019-12-13 1.01M
半导体器件 机械和气候试验方法 第14部分:引出端强度(引线牢固性) GB/T 4937.14-2018 2019-12-13 2.4M
半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分:盐雾 GB/T 4937.13-2018 2019-12-13 1014.29K
半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分:扫频振动 GB/T 4937.12-2018 2019-12-13 764.98K
半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分:快速温度变化 双液槽法 GB/T 4937.11-2018 2019-12-13 1.18M
环境试验 第2部分:试验方法 试验:温度(低温、高温)/低气压/振动(混合模式)综合 GB/T 2423.63-2019 2019-12-13 2.78M
半导体变流器与供电系统的兼容及干扰防护导则 GB 10236-2006 2019-12-13 13.85M
电梯节能逆变电源装置 GB/T 37319-2019 2019-12-06 3.93M
高海拔地区电气设备紫外线成像检测导则 第2部分:输电线路 GB/T 37141.2-2018 2019-12-06 4.57M
冶金用变频调速设备 GB/T 37009-2018 2019-12-06 7.57M
双端LED灯(替换直管形荧光灯用) 性能要求 GB/T 36949-2018 2019-12-04 2.46M
信息技术 用户建筑群布缆的实现和操作 第1部分:管理 GB/T 34961.1-2018 2019-12-04 2.68M
家用和类似用途电坐便器便座 GB/T 23131-2019 2019-12-04 4.36M
信息技术 用户建筑群通用布缆 第5部分:数据中心 GB/T 18233.5-2018 2019-12-04 9.46M
电热装置基本技术条件 第415部分:铝材退火炉 GB/T 10067.415-2018 2019-12-04 2.04M
电热和电磁处理装置的试验方法 第6部分:工业微波加热装置输出功率的测定方法 GB/T 10066.6-2018 2019-12-04 3.83M
电测量数据交换 DLMS/COSEM组件 第61部分:对象标识系统(OBIS) GB/T 17215.661-2018 2019-11-23 8.04M
电测量数据交换 DLMS/COSEM组件 第31部分:基于双绞线载波信号的局域网使用 GB/T 17215.631-2018 2019-11-23 24.56M
确定晶片坐标系规范 GB/T 16596-2019 2019-11-19 997.44K
晶片通用网格规范 GB/T 16595-2019 2019-11-19 1.46M